|
MET3005 | Malzeme Karakterizasyonu | 3+0+0 | AKTS:5 | Yıl / Yarıyıl | Güz Dönemi | Ders Duzeyi | Lisans | Yazılım Şekli | Zorunlu | Bölümü | METALURJİ ve MALZEME MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ | Ön Koşul | Yok | Eğitim Sistemi | Yüz yüze | Dersin Süresi | 14 hafta - haftada 3 saat teorik | Öğretim Üyesi | Prof. Dr. Aykut ÇANAKÇI | Diğer Öğretim Üyesi | Yok. | Öğretim Dili | Türkçe | Staj | Yok | | Dersin Amacı: | Malzemelerin karakterizasyonu yöntemlerinin kapsamlı ve pratik olarak anlaşılmasını sağlamak. |
Öğrenim Kazanımları | PÖKK | ÖY | Bu dersi başarı ile tamamlayan öğrenciler : | | | ÖK - 1 : | Mühendislikteki malzemelerin mikroyapı, bileşim ve üretimi arasındaki ilişkiyi tanımlama. | 1,4,12 | 1 | ÖK - 2 : | Farklı tipten ışık mikroskoplarını tanıma, bazı mühendislik malzemelerin mikro yapılarının belirlenmesi için ışık mikroskop ve görüntü analizinin yöntemine numuneler hazırlayabilecek. | 1,4,12 | 1 | ÖK - 3 : | Taramalı elektron mikroskoplarının çeşitli tiplerini, fonksiyonunu, cihazı ve SEM'lerin elektron numune arası etkileşimi anlama. | 1,4,12 | 1 | ÖK - 4 : | X-ışını haritası ve EDS X-ışını analizi yönteminiyle yapılan yüzey kimyasal analizini anlama ve yapma. | 1,4,12 | 1 | ÖK - 5 : | Mikroskop ve yüzey analizi teknikleriyle literatürde araştırıp bulunan yararlı bilgilerin ilişkilendirmesi ve bunların sunulmasının başarıması. | 1,4,12 | 1 | PÖKK :Program öğrenim kazanımlarına katkı, ÖY : Ölçme ve değerlendirme yöntemi (1: Yazılı Sınav, 2: Sözlü Sınav, 3: Ev Ödevi, 4: Laboratuvar Çalışması/Sınavı, 5: Seminer / Sunum, 6: Dönem Ödevi / Proje),ÖK : Öğrenim Kazanımı | |
Optik Mikroskobu için Numune Alma Hazırlama, Parlatma Yöntemleri, Dağlama Yöntemleri, Optik Mikroskobunun Yapısı ve Özellikleri, Makro ve Mikroyapı İncelemeleri, (Çelikler, , Demir Dışı Metal ve Alaşımların Optik Mikroskopisi, Döküm, Deformasyon ve Tavlanmış Yapılar, Tane Boyutu Ölçme Yöntemleri, Kantitatif Metalografi (Görüntü Analizi) , Elektron Mikroskopisi (SEM ve TEM) Prensipleri, X-Işınlarının Üretimi ve Özellikleri, X-Işını Difraksiyon Analizi, İndisleme ve Kafes Parametrelerinin Tayini, Kalitatif ve Kantitatif Analiz, (XRF, EDX ve WDX) , Termal Analiz Yöntemlerine Giriş, DTA ve TGA, Dilatometre, DSC. |
|
Haftalık Detaylı Ders Planı | Hafta | Detaylı İçerik | Önerilen Kaynak | Hafta 1 | Metalografi, Numune Hazırlama-İnceleme | | Hafta 2 | Parlatma Yöntemleri, Dağlama Yöntemleri | | Hafta 3 | Optik Mikroskobunun Yapısı ve Özellikleri, Makro ve Mikroyapı İncelemeleri, (Çelikler,Dökme Demirler, Demir Dışı Metal ve Alaşımların Optik Mikroskopisi, Döküm, Deformasyon ve Tavlanmış Yapılar) | | Hafta 4 | Elektron Mikroskopisi :Görüntüleme ve Mikroanaliz | | Hafta 5 | Kantitatif Metalografi, Tane Boyutu Ölçme Yöntemleri | | Hafta 6 | Çekme deneyi | | Hafta 7 | Çentik Darbe Deneyi, Sertlik Deneyi | | Hafta 8 | Arasınav | | Hafta 9 | Taramalı Elektron Mikroskobisi (SEM) - Transmisyon Elektron Mikroskobisi (TEM) ve Prensipleri | | Hafta 10 | X-Işınlarının Üretimi ve Özellikleri | | Hafta 11 | X-Işını Difraksiyon Analizi, İndisleme ve Kafes Parametrelerinin Tayini | | Hafta 12 | Kalitatif ve Kantitatif Analiz Yöntemleri (XRF, EDX ve WDX) | | Hafta 13 | Termal Analiz Yöntemleri | | Hafta 14 | Diferansiyel Termal Analiz (DTA), Termo Gravimetrik Analiz (TGA) | | Hafta 15 | Diferansiyel Taramalı Kalorimetre (DSC), Dilatometre | | Hafta 16 | Dönem sonu sınavı | | |
Ölçme Yöntemi | Yöntem | Hafta | Tarih | Süre (Saat) | Katkı (%) | Arasınav | 8 | 22/11/2022 | 2 | 50 | Laboratuar sınavı | 7 | (01/10-30/12) 2022 | 7 | | Dönem sonu sınavı | 17 | 08/01/2023 | 2 | 50 | |
Öğrenci Çalışma Yükü | İşlem adı | Haftalık süre (saat) | Hafta sayısı | Dönem toplamı | Yüz yüze eğitim | 3 | 14 | 42 | Sınıf dışı çalışma | 2 | 14 | 28 | Laboratuar çalışması | 1 | 5 | 5 | Arasınav için hazırlık | 14 | 1 | 14 | Arasınav | 2 | 1 | 2 | Dönem sonu sınavı için hazırlık | 28 | 1 | 28 | Dönem sonu sınavı | 2 | 1 | 2 | Toplam Çalışma Yükü | | | 121 |
|