|
|
| EEE4006 | Electronic Device Techniques | 2+0+1 | AKTS:4 | | Yıl / Yarıyıl | Bahar Dönemi | | Ders Duzeyi | Lisans | | Yazılım Şekli | Seçmeli | | Bölümü | ELEKTRİK ve ELEKTRONİK MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ | | Ön Koşul | Yok | | Eğitim Sistemi | Yüz yüze | | Dersin Süresi | 14 hafta - haftada 2 saat teorik ve 1 saat laboratuar | | Öğretim Üyesi | -- | | Diğer Öğretim Üyesi | Yok | | Öğretim Dili | İngilizce | | Staj | Yok | | | | Dersin Amacı: | | Bu dersin amacı, öğrencilere malzemeyi kullanmadan önce analiz yapmayı ve tasarımını öğretmek, uygulamayı ve özelliklerini test etmesini de sağlamaktadır. |
| Öğrenim Kazanımları | PÖKK | ÖY | | Bu dersi başarı ile tamamlayan öğrenciler : | | | | ÖK - 1 : | Elektronik cihaz sistemi tasarımına,analiz ve gerçekleştirilmesine bir yaklaşımı | 3,5,11,13 | 1 | | ÖK - 2 : | İstatitik analiz yapma: hata ve veri ilişkilerini | 3,5,11,13 | 1 | | ÖK - 3 : | cihaz sistemlerinin performans karakteristiklerini ve özelliklerini | 3,5,11,13 | 1 | | ÖK - 4 : | Gürültü tanımı, çeşitleri, kaynakları devreleri ve giderme yollarını | 3,5,11,13 | 1 | | ÖK - 5 : | Sensörler ve transdüserler: kullanılışları ve uygulamaları | 3,5,11,13 | 1 | | ÖK - 6 : | A/D ve D/A dönüşüm şekilleri, çoğullama | 11,12,13 | 1 | | ÖK - 7 : | Sayısal mültimetre devreleri -frekans ve zaman aralığı ölçmeleri | 3,5,11,13 | 1 | | PÖKK :Program öğrenim kazanımlarına katkı, ÖY : Ölçme ve değerlendirme yöntemi (1: Yazılı Sınav, 2: Sözlü Sınav, 3: Ev Ödevi, 4: Laboratuvar Çalışması/Sınavı, 5: Seminer / Sunum, 6: Dönem Ödevi / Proje),ÖK : Öğrenim Kazanımı | | |
| Elektronik cihaz tasarımına bir yaklaşım. İstatistik analiz. Cihaz sisteminin performans karakteristikleri: . Gürültü: kaynağı ve çeşitleri, tanımlanması, . Gürültü azaltma şekilleri. . Trandüserler: Trandüserlerin sınıflandırılması ve tipleri. Bir trandüser seçimi. A/D Dönüşüm teknikleri: Genel prensipler, sınıflandırılması ve tipleri. Avantaj ve dezavantajlarının karşılaştırılması. D\A Dönüşüm: D\A dönüşümünün uygulanması, çoğullama (A\D ve D\A) . Sayısal mutimetre devreleri, Frekans ve zaman aralığı ölçmeleri. |
| |
| Haftalık Detaylı Ders Planı | | Hafta | Detaylı İçerik | Önerilen Kaynak | | Hafta 1 | Elektronik cihaz tasarımına bir yaklaşım | | | Hafta 2 | İstatistik analiz | | | Hafta 3 | Cihaz sisteminin performans karakteristikleri | | | Hafta 4 | Gürültü: kaynağı ve çeşitleri, tanımlanması | | | Hafta 5 | Gürültü azaltma yolları | | | Hafta 6 | Trandüserler: Trandüserlerin sınıflandırılması ve tipleri | | | Hafta 7 | Bir trandüser seçimi | | | Hafta 8 | A/D Dönüşüm teknikleri | | | Hafta 9 | Arasınav | | | Hafta 10 | D\A Dönüşüm: D\A dönüşümünün uygulanması | | | Hafta 11 | çoğullama (A\D ve D\A) | | | Hafta 12 | Sayısal mutimetre devreleri | | | Hafta 13 | Frekans ve zaman aralığı ölçmeleri | | | Hafta 14 | RF ve fiber-optik ölçmeler | | | Hafta 15 | RF ve fiber-optik ölçmeler | | | Hafta 16 | Dönem sonu sınavı | | | |
| 1 | Berlin, Howard M.- Frank C. Getz, 1988; Principles of electronic instrumentation and measurement, U.S.A. | | | 2 | Helfrick, Albert D., William D. Cooper, 1990; Modern electronic instrumentation and measurement techniques | | | 3 | Morris, Alan S., 2001; Measurement and instrumentation principles, England | | | 4 | Cheatle, Keith R., 2006; Fundamentals of test measurement instrumentation, U.S.A. | | | |
| Ölçme Yöntemi | | Yöntem | Hafta | Tarih | Süre (Saat) | Katkı (%) | | Arasınav | 9 | 10/04/2013 | 2 | 50 | | Dönem sonu sınavı | 16 | 31/05/2013 | 2 | 50 | | |
| Öğrenci Çalışma Yükü | | İşlem adı | Haftalık süre (saat) | Hafta sayısı | Dönem toplamı | | Yüz yüze eğitim | 2 | 14 | 28 | | Sınıf dışı çalışma | 2 | 13 | 26 | | Arasınav için hazırlık | 1 | 8 | 8 | | Arasınav | 2 | 1 | 2 | | Dönem sonu sınavı için hazırlık | 2 | 5 | 10 | | Dönem sonu sınavı | 2 | 1 | 2 | | Toplam Çalışma Yükü | | | 76 |
|